Структурный анализ системы NdxBi1-xFeO3
Предмет рентгенографии - решение основной задачи структурного анализа при помощи рассеяния (дифракции) рентгеновского излучения. Основная задача структурного анализа - определить неизвестную функцию микрораспределения вещественного объекта (кристалла, аморфного тела, жидкости, газа). Явление рассеяния производит Фурье-анализ функции микрораспределения. При помощи обратной операции - фурье-синтеза можно восстановить искомую функцию микрораспределения. С помощью структурного анализа можно определять:
а) периодическую атомную структуру кристалла;
б) дефекты (динамические и статические) реальных кристаллов;
в) ближний порядок в аморфных телах и жидкостях;
г) структуру газовых молекул;
д) фазовый состав вещества.
Целью работы является изучение экспериментальных и теоретических методов рентгеноструктурного анализа и их применение для определения параметров кристаллических решеток висмутосодержащих перовскитов. Основные задачи, которые решались в ходе выполнения работы таковы: литературный обзор по теме исследования, изучение основ методов рентгеноструктурного анализа, поиск и изучение программных средств для теоретических расчетов, обработка экспериментальных рентгенограмм NdxBi1-xFeO3 теоретический расчет рентгенограмм, построение элементарных ячеек и уточнение их параметров.
- Природа рентгеновских лучей
- Кристаллическая структура и дифракция
- Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом
- Методы рентгеноструктурного анализа
- Метод Лауэ
- Метод вращения монокристалла.
- Метод порошка.
- Программы уточнения параметров элементарной ячейки.
- Структурные характеристики элементарных ячеек системы веществ NdxBi₁₋xFeO₃
- Заключение
- Пошаговая инструкция по работе с программой PowderCell
- Пошаговая инструкция по работе с программой Endeavour 1.2